用于测试磁性薄膜材料力和磁耦合的测试装置

摘要

本实用新型公开了一种用于测试磁性薄膜材料力和磁耦合的测试装置，包括光源、起偏镜、检偏镜、第一分光镜、第二分光镜、第一光栅、第二光栅、透镜、过滤屏、第一光线采集装置和第二光线采集装置，所述第一分光镜、第二分光镜、第一光栅、第二光栅、透镜、过滤屏和第一光线采集装置顺序排列在一水平直线上，所述光源、起偏镜设置在第一分光镜的一侧，且光源、起偏镜和第一分光镜处于同一水平直线上，所述第二光线采集装置和检偏镜设置在第二分光镜的一侧，且第二光线采集装置、检偏镜和第二分光镜处于同一水平直线上。实现对磁性材料的力-磁耦合特性测试的优点。

主权项

一种用于测试磁性薄膜材料力和磁耦合的测试装置，其特征在于，包括光源、起偏镜、检偏镜、第一分光镜、第二分光镜、第一光栅、第二光栅、透镜、过滤屏、第一光线采集装置和第二光线采集装置，所述第一分光镜、第二分光镜、第一光栅、第二光栅、透镜、过滤屏和第一光线采集装置顺序排列在一水平直线上，所述光源、起偏镜设置在第一分光镜的一侧，且光源、起偏镜和第一分光镜处于同一水平直线上，所述第二光线采集装置和检偏镜设置在第二分光镜的一侧，且第二光线采集装置、检偏镜和第二分光镜处于同一水平直线上；所述光源发出的白光经起偏镜后成为偏振光，该偏振光经第一分光镜后照射到位于磁场环境中的磁性薄膜表面，该偏振光经磁性薄膜表面反射后经第二分光镜后分为两个光束，其中一个光束经检偏镜后被第二光线采集装置采集，另一光束分别经第一光栅和第二光栅干涉后形成条纹，该条纹经透镜和过滤屏后被第一光线采集装置采集。