| 发明名称 | 测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置与方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置与方法，涉及光电子技术领域。可调谐激光器、偏振控制器、待测电光强度调制器、微波信号源、第一光连接器、第二光连接器、单模光纤、光功率计、光电探测器、微波功率计、数据采集卡、计算机；所述可调谐激光器、偏振控制器、待测电光强度调制器、第一光连接器、色散光纤组、第二光连接器、光电探测器之间依次光路连接；所述光电探测器、微波功率计、数据采集卡、计算机、微波信号源之间依次电路连接。本发明具有测量精度高、操作方便的优点，在光纤通信系统、电光强度调制器分析、光信号处理方面具有重要的应用前景。 | ||
| 申请公布号 | CN103234735A | 申请公布日期 | 2013.08.07 |
| 申请号 | CN201310137527.4 | 申请日期 | 2013.04.19 |
| 申请人 | 电子科技大学 | 发明人 | 张尚剑;叶胜威;邹新海;张雅丽;刘永 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人 | 徐丰;杨保刚 |
| 主权项 | 一种测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置，其特征在于，包括可调谐激光器（1）、偏振控制器（2）、待测电光强度调制器（3）、微波信号源（4）、第一光连接器（51）、第二光连接器（52）、色散光纤组 （6）、光功率计（7）、光电探测器（8）、微波功率计（9）、数据采集卡（10）、计算机（11）；所述可调谐激光器（1）、偏振控制器（2）、待测电光强度调制器（3）、第一光连接器（51）、色散光纤组（6）、第二光连接器（52）、光电探测器（8）之间依次光路连接；所述光电探测器（8）、微波功率计（9）、数据采集卡（10）、计算机（11）、微波信号源（4）之间依次电路连接；所述第二光连接器（52）、光功率计（7）之间为光路连接；所述色散光纤组（6）包括第一色散光纤（61）、第二色散光纤（62）；所述待测电光强度调制器（3）与微波信号源（4）之间为微波电路连接。 | ||
| 地址 | 611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号 | ||