SOC芯片调试设备、方法及装置

摘要

本发明公开了一种SOC芯片调试设备、方法和装置，属于集成电路领域，为解决现有技术无法对SOC芯片进行调试而设计。SOC芯片调试设备包括：上位机；上位机与硬件调试工具连接；硬件调试工具连接有I2C总线一端；调试时，I2C总线另一端与SOC芯片连接，SOC芯片与硬件调试工具之间的通信遵循I2C通信协议。SOC芯片调试方法包括：将I2C通信协议的识别程序和I2C通信协议的解码程序复制到CPU的程序寄存器中；为CPU模拟输入/输出端口和时钟端口；将调试指令通过所述输入/输出端口和时钟端口发送给所述CPU处理。

主权项

一种SOC芯片调试设备，包括上位机；该上位机通过通用端口与硬件调试工具连接；其特征在于，所述硬件调试工具连接有I2C总线一端；调试时，所述I2C总线另一端与SOC芯片连接，SOC芯片与硬件调试工具之间的通信遵循I2C通信协议；所述SOC芯片包括CPU，该CPU设置有至少两个通用输入/输出端口，所述通用输入/输出端口模拟为支持I2C总线的输入/输出端口和时钟端口；所述CPU的程序寄存器中存储有I2C通信协议的识别程序和I2C通信协议的解码程序。