发明名称 |
一种LED外延结构及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开一种LED外延结构及其制备方法,自下而上依次包括:衬底;GaN成核层;若干对AlGaN/n-GaN交替堆叠结构组成的超晶格缓冲层;n-GaN层;MQW发光层;p-GaN层以及p型接触层;其特征在于:定义Al(n)代表第n对AlGaN/n-GaN超晶格缓冲层对中Al组分值,N(n)代表第n对AlGaN/n-GaN超晶格缓冲层对中n型杂质浓度值,Al(n)的变化趋势是先逐渐上升再逐渐下降,N(n)的变化趋势是先逐渐上升再逐渐下降。本发明提供的LED外延片结构,可有效在底层生长段充分释放由于蓝宝石衬底和GaN晶格不匹配造成的晶格失配导致的晶格应力,从而大大降低外延片在整个高温生长过程中的翘曲,提升外延片波长集中性及良率,同时有效提升GaN晶格质量,减少晶格位错密度,使器件光电特性更为稳定。 |
申请公布号 |
CN103236477A |
申请公布日期 |
2013.08.07 |
申请号 |
CN201310137286.3 |
申请日期 |
2013.04.19 |
申请人 |
安徽三安光电有限公司 |
发明人 |
南琦;谢祥彬;乔楠;张文燕;周宏敏;李兰;程伟;徐志军;吴洪浩 |
分类号 |
H01L33/04(2010.01)I |
主分类号 |
H01L33/04(2010.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种LED外延结构,自下而上依次包括:衬底;GaN成核层;若干对AlGaN/n‑GaN交替堆叠结构组成的超晶格缓冲层;n‑GaN层;MQW发光层;p‑GaN层以及 p型接触层;其特征在于:定义Al(n)代表第n对AlGaN/n‑GaN超晶格缓冲层对中Al组分值,N(n)代表第n对AlGaN/n‑GaN超晶格缓冲层对中n型杂质浓度值,Al(n)的变化趋势是先逐渐上升再逐渐下降,N(n)的变化趋势是先逐渐上升再逐渐下降。 |
地址 |
241000 安徽省芜湖市经济技术开发区东梁路8号 |