一种存储器的自检测电路和方法

摘要

本发明提供一种存储器的自检测电路，其中所述寄存器组中存有测试方式、地址范围、地址生成方式以及数据生成方式，所述控制信号发生器将生成的控制信号发送给所述数据生成器和地址生成器，所述数据生成器按照所述数据生成方式生成测试数据并将所述测试数据发送给所述数据比较器和测试接口，所述测试接口将所述测试数据存入存储器中，所述地址生成器根据所述地址范围和地址方式生成测试地址并将所述测试地址发送给所述地址选择器，所述地址选择器根据所述测试地址和所述存储器中的地址进行匹配，所述测试接口根据所述寄存器组中的测试方式以及测试地址从所述存储器中读取数据，所述数据比较器比较所述测试数据和从测试接口读取的数据。

主权项

一种存储器的自检测电路，其包括数据生成器、数据比较器、地址生成器、地址选择器、寄存器组、控制信号发生器以及测试接口，其特征在于：所述寄存器组中存有测试方式、地址范围、地址生成方式以及数据生成方式，所述控制信号发生器将生成的控制信号发送给所述数据生成器和地址生成器，所述数据生成器按照所述数据生成方式生成测试数据并将所述测试数据发送给所述数据比较器和测试接口，所述测试接口将所述测试数据存入存储器中，所述地址生成器根据所述地址范围和地址方式生成测试地址并将所述测试地址发送给所述地址选择器，所述地址选择器根据所述测试地址和所述存储器中的地址进行匹配，所述测试接口根据所述寄存器组中的测试方式以及测试地址从所述存储器中读取数据，所述数据比较器比较所述测试数据和从测试接口读取的数据，最后将比较结果发送给所述测试接口，所述测试接口负责接受从测试仪配置给所述寄存器组的值，并向所述测试仪发送测试结果,所述寄存器组中的测试方式包括数据测试和连接测试，当测试方式为连接测试时，所述数据生成器均生成固定的测试数据，所述地址生成器在不同比较次数中按照一位热码方式或多位热码方式生成不同的测试地址以进行测试；或所述地址生成器均生成固定的测试地址，然后数据生成器在不同比较次数中按照一位热码方式或多位热码方式生成不同的数据以进行测试；或地址生成器和数据生成器在不同比较次数中分别按照多位热码方式生成不同的测试地址和测试数据以进行测试。