发明名称 |
pontas de provas para teste de circuitos integrados ou similares e outros |
摘要 |
PONTAS DE PROVAS PARA TESTE DE CIRCUITOS INTEGRADOS OU SIMILARES E OUTROS. Refere-se o presente modelo de utilidade a um dispositivo que facilita a realização de testes de medição em componentes eletrônicos tipo SMD em placas de circuito impresso, cujas dimensões são diminutas, o qual serve ao propósito de proporcionar maiores facilidades para os profissionais da área, que fazem uso desses tipos de aparelhos de teste.
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申请公布号 |
BRMU9102666(U2) |
申请公布日期 |
2013.08.06 |
申请号 |
BR2011MU02666U |
申请日期 |
2011.09.21 |
申请人 |
JOAQUIM HUMBERTO SANTOS DA MOTA |
发明人 |
JOAQUIM HUMBERTO SANTOS DA MOTA |
分类号 |
G01R1/067;H01L21/66;H01L21/67 |
主分类号 |
G01R1/067 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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