| 摘要 |
<p>Es wird beschrieben ein Verfahren zur wellenlängenselektiven und örtlich hochauflösenden Fluoreszenzmikroskopie, wobei in einer Probe (2) wiederholt Fluoreszenzemitter zur Abgabe von Fluoreszenzstrahlung angeregt und von der Probe (2) mit einem Mikroskop (1), das einen Abbildungsstrahlengang (10) mit einer optischen Auflösung aufweist, Einzelbilder (16) erzeugt werden, wobei die Fluoreszenzemitter derart zur Abgabe von Fluoreszenzstrahlung angeregt werden, daß zumindest ein Teilmenge der Fluoreszenzemitter in jedem Einzelbild (16) isoliert ist, in den erzeugten Einzelbildern (16) die Lagen der isoliert fluoreszierenden Fluoreszenzemitter mit einer über eine optische Auflösung hinaus gehenden Ortsgenauigkeit lokalisiert werden und daraus ein hochaufgelöstes Gesamtbild erzeugt wird, der Abbildungsstrahlengang (10) des Mikroskops (1) einen spektral selektives Element (11) aufweist, das bei der Erzeugung der Einzelbilder (16) einer Punktbildverwaschungsfunktion eine spektral abhängige Rotationsasymmetrie verleiht, so daß die Bilder (17, 18; 29, 30) isoliert fluoreszierender Fluoreszenzemitter eine Rotationsasymmetrie aufweisen, die von einer Wellenlänge, bei der die isoliert fluoreszierenden Fluoreszenzemitter fluoreszieren, abhängt, und in den Einzelbildern (16) die Bilder (17, 18; 29, 30) der isolierten Fluoreszenzemitter hinsichtlich ihrer Rotationsasymmetrie analysiert werden und daraus eine Angabe über die Wellenlänge der isoliert fluoreszierenden Fluoreszenzemitter abgeleitet wird.</p> |
