一种基于微波辐射双通道测量技术的绝缘子污秽检测装置

摘要

一种基于微波辐射双通道测量技术的绝缘子污秽检测装置，包括：用于接收来自绝缘子污秽的微波段35GHz频段的能量信号的天线(1)、将天线(1)接收到的信号分成水平和垂直极化信号的水平垂直极化分离器(2)；用于在驱动下对比极化分离器(2)提供信号与参考负载器(16)提供的基准信号的转换开关(3)；分别对极化分离器(2)和开关(3)提供的水平和垂直极化的微波信号进行高放、混频、中放、检波、低放、同步检波和积分处理后通过数字显示器(11)输出测量数据。实施本实用新型提供的一种基于微波辐射双通道测量技术的绝缘子污秽检测装置，可以进行在线式、不停电、非接触的绝缘子污秽程度的测量。

主权项

一种基于微波辐射双通道测量技术的绝缘子污秽检测装置，其特征在于，包括: 方波发生器; 由方波发生器驱动的第一开关驱动器和第二开关驱动器(14); 用于接收来自绝缘子污秽的微波段35GHZ频段的能量信号的天线(1); 用于将天线(1)接收到的信号分成水平和垂直极化信号的水平垂直极化分离器(2); 用于在驱动下对比极化分离器(2)提供信号与参考负载器(16)提供的基准信号的转换开关(3); 对水平垂直极化分离器(2)输出的微波信号进行放大的第一高放(41); 提供本地振荡信号的本振(15); 将本振信号与第一高放(41)输出信号进行下变频为第一中频信号的第一混频器(51); 对转换开关(3)输出的微波信号进行放大的第二高放(42): 将本振信号与第二高放(42)输出信号进行下变频为第二中频信号的第二混频(52); 将第一中频信号进行中频放大的第一中放(61); 将第二中频信号进行中频放大的第二中放(62); 将第一中放(61)输出信号检波为第一低频信号的第一检波器(71); 将第二中放(62)输出信号检波为第二低频信号的第二检波器(72); 对第一检波器后的低频信号进一步放大的第一低放(81); 对第二检波器后的低频信号进一步放大的第二低放(82); 由第二开关驱动器(14)提供同步信号对第一低放(81)输出信号同步检波为直流信号的第一同步检波器(91); 由第二开关驱动器(14)提供同步信号对第二低放(82)输出信号同步检波为直流信号的第二同步检波器(92); 对第一同步检波器(91)输出信号进行最终信号检测与处理的第一积分器(101); 对第二同步检波器(92)输出信号进行最终信号检测与处理的第二积分器 (102); 用于对第一和第二测量数据进行读取和显示的数字显示器(11)。