发明名称 用于获得非晶材料具体是非晶玻璃的结构因子的方法
摘要 入射X射线朝向非晶材料样本以广角扇形发射,非晶材料样本背散射该X射线。所述方法包括:记录步骤,记录作为入射角的函数的实验光子强度测量结果;校正步骤,校正实验强度,至少考虑所述样本内的吸收现象,吸收现象取决于反射之前入射波在所述样本内的穿透长度l;归一化步骤,按归一化常数(α)将从所述实验强度得到的校正强度折合为电子强度;计算步骤,计算离散化函数Q·i(Q),i为从校正并归一化的实验强度的测量结果得到的约化强度,且Q为与量(sinθ)/λ成比例的波散射向量的模,2θ为散射角,λ为发射的波长,所述归一化常数(α)按递归方式变化以最小化通过函数Q·i(Q)的值的线性回归获得的仿射直线(42)的斜率,在每次迭代期间,针对穿透长度l计算所述约化强度的值,寻求的所述函数Q·i(Q)(41)对应于最小斜率;确定步骤,基于取决于Q·i(Q)的径向原子浓度ρ(r)的分布确定结构因子。
申请公布号 CN102144157B 申请公布日期 2013.07.31
申请号 CN200980132671.0 申请日期 2009.07.08
申请人 原子能和辅助替代能源委员会 发明人 O·布蒂
分类号 G01N23/205(2006.01)I;G01N23/207(2006.01)I 主分类号 G01N23/205(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 陈松涛;蹇炜
主权项 一种用于基于实验记录的非晶材料的样本(10)内的X射线散射的光谱获得所述非晶材料的结构因子的方法,其中,至少一X射线作为入射射线(1)朝向所述样本发射并且通过所述样本反射至检测器(12),所述入射X射线(1)按给定的入射角扫描所述样本的表面,所述方法的特征在于其包括:‑记录步骤,记录由所述检测器(12)执行的作为所述入射角的函数的实验光子强度测量结果;‑校正步骤,校正实验强度,至少考虑所述样本内的吸收现象,每次测量时吸收的强度的量取决于反射之前入射波在所述样本内的穿透长度l;‑归一化步骤,按归一化常数(α)将从所述实验强度得到的校正强度折合为电子强度;‑计算步骤,计算离散化函数Q·i(Q),i为约化强度,其是反射的相关相干强度与反射的不相关相干强度的比率(Icd/Ici)并且是从校正并归一化的实验强度的测量结果得到的,且Q为与量(sinθ)/λ成比例的波散射向量的模,2θ为散射角,λ为发射的波长,归一化常数(α)按递归方式变化以使得通过所述函数Q·i(Q)的值的线性回归获得的仿射直线(42)的斜率最小化,在每次迭代期间,针对穿透长度l计算所述约化强度的值,寻求的所述函数Q·i(Q)(41)对应于最小斜率;‑确定步骤,基于取决于Q·i(Q)的径向原子浓度ρ(r)的分布确定所述结构因子。
地址 法国巴黎