发明名称 X射线检查装置
摘要 本发明提供迅速且高精度、非破坏性计测被检查对象物中含金的形状和含量的X射线检查装置。因而提供一种X射线检查装置1,具备:向被检查对象物照射90keV以上的X射线的X射线发生器4;检测从被检查对象物透过的X射线的X射线检测器6、7;以及基于该X射线检测器检测到的X射线信号来计测被检查对象物中含金的形状和含量的演算部8,Au滤波器6和Pt滤波器7分别设置在X射线检测器和被检查对象物之间,X射线检测器4对从X射线发生器照射出、并从被检查对象物和Au滤波器透过来的X射线、以及从X射线发生器照射出、并从被检查对象物和Pt滤波器透过来的X射线分别进行检测,演算部8基于各X射线信号来计测被检查对象物中含有的Au的形状和含量。
申请公布号 CN103226111A 申请公布日期 2013.07.31
申请号 CN201310004320.X 申请日期 2013.01.07
申请人 X射线精密有限公司 发明人 细川好则
分类号 G01N23/04(2006.01)I 主分类号 G01N23/04(2006.01)I
代理机构 北京市中咨律师事务所 11247 代理人 李照明;段承恩
主权项 一种X射线检查装置,具备:向被检查对象物照射90keV以上的X射线的X射线发生器;检测从所述被检查对象物透过来的X射线的X射线检测器;以及,基于该X射线检测器检测到的X射线信号来计测所述被检查对象物中含有的金Au的形状和含量的演算部,所述X射线检查装置的特征在于,由Au形成的第1滤波器、和由Pt或原子序号比Pt低的材料形成的第2滤波器分别设置在所述X射线检测器与所述被检查对象物之间,所述X射线检测器,对从所述X射线发生器照射出、并从所述被检查对象物和所述第1滤波器透过来的X射线、以及从所述X射线发生器照射出、并从所述被检查对象物和所述第2滤波器透过来的X射线分别进行检测,所述演算部基于所述X射线检测器检测到的各X射线信号来计测所述被检查对象物中含有的Au的形状和含量。
地址 日本京都府