发明名称 |
硅纳米管的制作方法 |
摘要 |
本发明涉及一种硅纳米管的制作方法,包括以下步骤:在硅片上热氧化生长二氧化硅层,在二氧化硅层上依次沉积多晶硅和氮化硅;刻蚀氮化硅和多晶硅,形成顶部覆盖有氮化硅的多晶硅线;边旋转硅片边以一倾斜角度对多晶硅线进行离子注入;去除多晶硅线上的氮化硅;以垂直角度对多晶硅线进行离子注入;在多晶硅线上热氧化生长二氧化硅膜。本发明采用氮化硅作为注入阻挡层,旋转硅片对多晶硅线侧壁均匀掺杂,去除氮化硅阻挡层对多晶硅线的顶部进行掺杂,使得多晶硅线上均匀掺杂,同时使得后续在多晶硅线上热氧化生长的二氧化硅膜厚度均匀,硅纳米管的性能提高。 |
申请公布号 |
CN102332392B |
申请公布日期 |
2013.07.31 |
申请号 |
CN201110328164.3 |
申请日期 |
2011.10.25 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
景旭斌;杨斌;郭明升 |
分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
陆花 |
主权项 |
一种硅纳米管的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:在硅片上热氧化生长二氧化硅层,在二氧化硅层上依次沉积多晶硅和氮化硅;刻蚀氮化硅和多晶硅,形成顶部覆盖有氮化硅的多晶硅线;边旋转硅片边以一倾斜角度对多晶硅线进行离子注入;去除多晶硅线上的氮化硅;以垂直角度对多晶硅线进行离子注入;在多晶硅线上热氧化生长二氧化硅膜;所述倾斜角度为20‑30°。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路497号 |