| 摘要 |
1. Интерференционный фильтр для приема падающего света и выбора составляющей света из падающего света, подлежащей пропусканию через интерференционный фильтр в качестве отфильтрованного света, содержащий:- металлическое зеркало;- диэлектрическое зеркало; и- разделитель, помещенный между металлическим зеркалом и диэлектрическим зеркалом,в котором металлическому зеркалу и диэлектрическому зеркалу приданы конфигурации, делающие возможной оптическую интерференцию в разделителе для выбора составляющей света из падающего света, подлежащей пропусканию.2. Интерференционный фильтр по п.1, в котором по меньшей мере одно из толщины и состава разделителя задается для выбора составляющей света из падающего света, подлежащей пропусканию.3. Интерференционный фильтр по п.1, в котором толщина разделителя задается в пределах интервала 60 нм для выбора составляющей света из падающего света, подлежащей пропусканию, имеющей центральную длину волны в пределах интервала 140 нм, при поддержании постоянными толщины металлического зеркала и толщины диэлектрического зеркала.4. Интерференционный фильтр по любому из пп.1-3, в котором металлическое зеркало расположено на подложке и покрыто разделителем на всех сторонах, за исключением стороны, обращенной к подложке.5. Интерференционный фильтр по любому из пп.1-3, в котором металлическое зеркало расположено на подложке, а интерференционный фильтр также содержит тонкопленочный разделительный слой, расположенный между подложкой и металлическим зеркалом.6. Мини-спектрометр для приема падающего света и обнаружения одной или более составляющих света в падающем свете, содержащий:- первый и |
