发明名称 Verfahren zum Ausbilden von Halbleiterbauelementen
摘要 <p>Gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beinhaltet ein Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements das Ausbilden eines Grabens von einer oberen Oberfläche eines Substrats mit einem Bauelementgebiet. Das Bauelementgebiet befindet sich neben der oberen Oberfläche als eine gegenüberliegende untere Oberfläche. Der Graben umgibt die Seitenwände des Bauelementgebiets. Der Graben wird mit einem Kleber gefüllt. Eine Kleberschicht wird über der oberen Oberfläche des Substrats ausgebildet. Ein Träger wird mit der Kleberschicht angebracht. Das Substrat wird von der unteren Oberfläche aus verdünnt, um mindestens einen Abschnitt des Klebers und eine hintere Oberfläche des Bauelementgebiets zu exponieren. Die Kleberschicht wird entfernt und Kleber wird geätzt, um eine Seitenwand des Bauelementgebiets zu exponieren.</p>
申请公布号 DE102013200761(A1) 申请公布日期 2013.07.25
申请号 DE201310200761 申请日期 2013.01.18
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 ENGELHARDT, MANFRED;HIRSCHLER, JOACHIM;ROESNER, MICHAEL
分类号 H01L21/784;H01L21/3065;H01L21/312;H01L21/56 主分类号 H01L21/784
代理机构 代理人
主权项
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