发明名称 Automatische Analysevorrichtung
摘要 Es wird eine automatische Analysevorrichtung vorgestellt, bei der eine Anforderung für eine zusätzliche Untersuchung an einer bereits analysierten Probe oder beim Auftreten eines Fehlers schnell ausgeführt werden kann. Die automatische Analysevorrichtung gibt die Meßwerte für die analysierte Probe aus, stellt fest, ob eine erneute Analyse erforderlich ist, und führt die erneute Analyse aus. Um diese Funktionen ausführen zu können, enthält die automatische Analysevorrichtung einen Pufferbereich zum Warten, bis die Analyse beendet und die Meßwerte ausgegeben sind. Jede Analyseeinheit enthält zwei Puffereinheiten, die beliebig auf den Pufferbereich zugreifen können. Die automatische Analysevorrichtung weist in der Nähe des Pufferbereichs auch eine Position auf, an der eine Probe zugegeben und wieder entnommen werden kann. Ein Gestell, das die fragliche Probe enthält und das im Pufferbereich wartet, wird an der Entladeposition durch eine Anweisung zum Entladen entladen, die von einem Bediener an einem Bedienungsabschnitt ausgegeben wird. Die an der Probe erforderlichen Operationen werden von oberhalb des entladenen Gestells ausgeführt. Ein nachfolgendes Wiederbeladen mit der Probe ermöglicht es, andere Proben fortlaufend zu analysieren.
申请公布号 DE112009003793(B4) 申请公布日期 2013.07.25
申请号 DE20091103793T 申请日期 2009.12.04
申请人 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORP. 发明人 MATSUBARA, SHIGEKI;TOKIEDA, HITOSHI;AKUTSU, MASASHI;TAKAGI, YOSHIMITSU
分类号 G01N35/02;G01N35/04 主分类号 G01N35/02
代理机构 代理人
主权项
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