发明名称 3D-Lokalisierungsmikroskopie- und 4D-Lokalisierungsmukroskopie sowie Verfolgungs-Verfahren und - Systeme
摘要 Ein 3D-Lokalisationsmikroskopiesystem und ein 4D-Lokalisationsmikroskopie- oder Emitter-Verfolgungs-System ist so ausgebildet, dass eine Phasendifferenz zwischen Licht zu/von einem Teil des Objektivs und Licht zu/von einem anderen Teil des Objektivs bewirkt wird, ein Punktemitterbild umfassend zwei Lappen erzeugt wird, wobei ein Versatz zwischen den Lappen mit der Relativposition von Emitter und Objektiv des Abbildungssystems verknüpft ist, wobei im 4D-System eine weitere Eigenschaft des Bildes oder des Lichtes zu/von dem Objektiv mit einer anderen, lokalisationsunabhängigen Eigenschaften des Emitters verknüpft ist.
申请公布号 DE112011103187(T5) 申请公布日期 2013.07.25
申请号 DE201111103187T 申请日期 2011.09.26
申请人 CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH 发明人 SOELLER, CHRISTIAN;CANNELL, MARK BRYDEN;BADDELEY, DAVID MICHAEL
分类号 G02B21/16;G01N21/64;G02B21/36 主分类号 G02B21/16
代理机构 代理人
主权项
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