发明名称 |
一种发光二极管的结温测量方法及应用 |
摘要 |
本发明公开了一种发光二极管的结温测量方法及应用,结温测量方法包括以下步骤:测试不同温度下发光二极管器件中半导体材料的电阻与温度的定标关系;在发光二极管工作时监测半导体材料的电阻变化,并利用定标关系得到发光二极管工作时的结区温度,所得温度即为所要测量的发光二极管结温。所述测温方法应用于垂直结构或平面结构的发光二极管芯片结温测量;或应用于正装或倒装的发光二极管芯片结温测量。该发明可使用成本较低的普通测量装置简单高效的获取LED的结温。由于只需一次定标测量,测量误差小;操作简单易行;仅需常规的电学测试装置。 |
申请公布号 |
CN103217229A |
申请公布日期 |
2013.07.24 |
申请号 |
CN201310099791.3 |
申请日期 |
2013.03.26 |
申请人 |
广东工业大学 |
发明人 |
招瑜;钟文姣;魏爱香;刘俊;黄智灏;赵定健;黎文辉;李耀鹏;王仲东 |
分类号 |
G01K11/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01K11/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州粤高专利商标代理有限公司 44102 |
代理人 |
林丽明 |
主权项 |
一种发光二极管的结温测量方法,其特征在于,包括以下步骤:测试不同温度下发光二极管器件中半导体材料的电阻与温度的定标关系;在发光二极管工作时监测半导体材料的电阻变化,并利用定标关系得到发光二极管工作时的结区温度,所得温度即为所要测量的发光二极管结温。 |
地址 |
510006 广东省广州市番禺区广州大学城外环西路100号 |