发明名称 |
光电二极管及其制造方法、X射线探测器基板及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供了一种光电二极管及其制造方法、X射线探测器基板及其制造方法。所述光电二极管的制造方法包括:在衬底基板上形成光电二极管,所述光电二极管包括N型层、I型层以及经过离子注入和活化工艺形成的P型层,所述I型层位于所述P型层之上,所述N型层位于所述I型层之上。本发明采用离子注入和活化工艺制作光电二极管,通过改变光电二极管的制作顺序,避免了因硼离子的注入造成对本征非晶硅的污染,从而提高了光电二极管的光电性能。 |
申请公布号 |
CN103219431A |
申请公布日期 |
2013.07.24 |
申请号 |
CN201310139580.8 |
申请日期 |
2013.04.19 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司 |
发明人 |
郭炜;任庆荣 |
分类号 |
H01L31/20(2006.01)I;H01L31/115(2006.01)I;H01L27/144(2006.01)I |
主分类号 |
H01L31/20(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
彭瑞欣;陈源 |
主权项 |
一种光电二极管的制造方法,其特征在于,包括:在衬底基板上形成光电二极管,所述光电二极管包括N型层、I型层以及经过离子注入和活化工艺形成的P型层,所述I型层位于所述P型层之上,所述N型层位于所述I型层之上。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |