发明名称 |
一种电波折射修正方法、装置及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种电波折射修正方法、装置及系统,该方法包括基于历史气象探空数据和地面温湿压数据,实时获得对流层折射率剖面;基于地基单站GNSS接收机采集到的GNSS信号,实时获取电离层垂直总电子含量实测值,在电离层垂直总电子含量实测值的基础上,利用遗传非线性优化算法实时反演出电离层电子密度剖面;根据对流层折射率剖面和电离层电子密度剖面,利用射线描迹方法计算电波环境折射误差;并对目标探测数据进行修正。本发明可以提升工程中电波环境感知能力,精确给出电波环境折射误差,有效地提高目标的探测精度。 |
申请公布号 |
CN103217177A |
申请公布日期 |
2013.07.24 |
申请号 |
CN201310167204.X |
申请日期 |
2013.05.09 |
申请人 |
中国电子科技集团公司第二十二研究所 |
发明人 |
康士峰;刘琨;赵振维;林乐科;李建儒;陈祥明;朱庆林;王红光;孙方;丁宗华 |
分类号 |
G01D3/028(2006.01)I;G01W1/02(2006.01)I;G01T1/29(2006.01)I |
主分类号 |
G01D3/028(2006.01)I |
代理机构 |
工业和信息化部电子专利中心 11010 |
代理人 |
罗丹 |
主权项 |
一种电波折射修正方法,其特征在于,包括:步骤一,基于历史气象探空数据和地面温湿压数据,实时获得对流层折射率剖面;步骤二,基于地基单站全球导航卫星系统GNSS接收机采集到的GNSS信号,实时获取电离层垂直总电子含量实测值,在电离层垂直总电子含量实测值的基础上,利用遗传非线性优化算法实时反演出电离层电子密度剖面;步骤三,根据对流层折射率剖面和电离层电子密度剖面,利用射线描迹方法实时计算电波环境折射误差;步骤四,根据电波环境折射误差,对目标探测数据进行修正。 |
地址 |
266107 山东省青岛市城阳区仙山东路36号 |