发明名称 具有脲基且含有硅的形成抗蚀剂下层膜的组合物
摘要 本发明的课题是提供一种形成光刻用抗蚀剂下层膜的组合物,该组合物用于形成可以作为硬掩模使用的抗蚀剂下层膜。作为本发明的解决问题的方法是,一种形成光刻用抗蚀剂下层膜的组合物,含有:含脲基的水解性有机硅烷、其水解物、或其水解缩合物。水解性有机硅烷是式(1)所示化合物。<img file="DPA00001182179800011.GIF" wi="649" he="420" />式(1)<img file="DPA00001182179800012.GIF" wi="816" he="238" />式(2)[式(1)中,T<sup>1</sup>、T<sup>2</sup>和T<sup>3</sup>这3个基团中的至少一个是式(2)所示基团。]
申请公布号 CN101910949B 申请公布日期 2013.07.24
申请号 CN200980101958.7 申请日期 2009.01.08
申请人 日产化学工业株式会社 发明人 中岛诚;菅野裕太;柴山亘
分类号 G03F7/11(2006.01)I;C08G77/26(2006.01)I;C08L83/08(2006.01)I;G03F7/40(2006.01)I 主分类号 G03F7/11(2006.01)I
代理机构 北京市中咨律师事务所 11247 代理人 段承恩;陈海红
主权项 1.一种形成光刻用抗蚀剂下层膜的组合物,含有:式(1)所示水解性有机硅烷、与选自式(4)所示有机硅化合物和式(5)所示有机硅化合物中的至少1种有机硅化合物的组合、它们的水解物、或它们的水解缩合物,选自所述式(4)所示有机硅化合物和所述式(5)所示有机硅化合物中的至少1种有机硅化合物中,包含苯基三甲氧基硅烷或苯基三乙氧基硅烷,<img file="FSB00001056255100011.GIF" wi="516" he="340" />式(1)式(1)中,T<sup>1</sup>、T<sup>2</sup>和T<sup>3</sup>这3个基团中的至少一个是式(2)所示基团,其他的T<sup>1</sup>、T<sup>2</sup>和T<sup>3</sup>各自独立地表示氢原子、R<sup>1</sup>或R<sup>2</sup>,其中,R<sup>1</sup>和R<sup>2</sup>各自独立地表示烷基、芳基、卤代烷基、卤代芳基、链烯基、或具有环氧基、丙烯酰基、甲基丙烯酰基、巯基、氨基或氰基的有机基团,R<sup>1</sup>与R<sup>2</sup>还可以结合在一起形成环,<img file="FSB00001056255100012.GIF" wi="698" he="212" />式(2)式(2)中,R<sup>3</sup>表示亚烷基、亚芳基、卤代亚烷基、卤代亚芳基、亚烯基,或由具有环氧基、丙烯酰基、甲基丙烯酰基、巯基、氨基或氰基的有机基团衍生的2价连接基团,n表示0或1的整数,R<sup>4</sup>表示烷基、芳基、卤代烷基、卤代芳基、链烯基,或具有环氧基、丙烯酰基、甲基丙烯酰基、巯基、氨基或氰基的有机基团,R<sup>5</sup>表示烷氧基、酰氧基或卤原子,m表示0或1的整数,R<sup>6</sup><sub>a</sub>Si(R<sup>7</sup>)<sub>4-a</sub>         式(4)式中,R<sup>6</sup>表示烷基、芳基、卤代烷基、卤代芳基、链烯基、或具有环氧基、丙烯酰基、甲基丙烯酰基、巯基、氨基或氰基的有机基团,且通过Si-C键与硅原子结合,R<sup>7</sup>表示烷氧基、酰氧基或卤原子,a表示0~3的整数,〔R<sup>8</sup><sub>c</sub>Si(R<sup>9</sup>)<sub>3-c</sub>〕<sub>2</sub>Y<sub>b</sub>     式(5)式中,R<sup>8</sup>表示烷基,R<sup>9</sup>表示烷氧基、酰氧基或卤原子,Y表示亚烷基或亚芳基,b表示0或1的整数,c表示0或1的整数。
地址 日本东京都