发明名称 |
分析装置及分析方法 |
摘要 |
提供一种在对微粒连续地回收浓缩的同时,实时地进行分析的方法。利用来自送气部(5)的气流使附着在认证对象(2)上的检测对象物质的气体和/或微粒剥离,吸取剥离的试样,在微粒捕获部(10)中进行浓缩来捕获,在离子源部(21)中生成试样的离子,在质量分析部(23)中进行质量分析。从得到的质量光谱中,判定是否有来自检测对象物质的质量光谱,并将该结果显示在显示部(27)中,由此,对附着在认证对象(2)上的检测对象物质进行连续、实时、迅速且误报低的检测。 |
申请公布号 |
CN103221812A |
申请公布日期 |
2013.07.24 |
申请号 |
CN201180054607.2 |
申请日期 |
2011.11.08 |
申请人 |
株式会社日立制作所 |
发明人 |
永野久志;铃木康孝;鹿岛秀夫;桥本雄一郎;杉山益之;菅谷昌和;土井泰德;寺田光一 |
分类号 |
G01N27/62(2006.01)I;G01N1/02(2006.01)I;H01J49/10(2006.01)I;H01J49/42(2006.01)I |
主分类号 |
G01N27/62(2006.01)I |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 11243 |
代理人 |
许静;郭凤麟 |
主权项 |
一种分析装置,其特征在于,具备:送气部,使附着于对象上的试样剥离;吸气部,吸取从所述对象剥离的试样;微粒捕获部,浓缩并捕获吸取的所述试样;离子源部,从所述微粒捕获部导入试样并将试样离子化;质量分析部,对通过所述离子源部生成的离子进行质量分析;控制部,控制所述离子源部与所述质量分析部;数据库部,保存来自检测对象物质的质量光谱数据;以及判定部,将所述质量分析部得到的试样的质量分析结果与所述数据库部中保存的质量光谱数据进行对照,来判定所述检测对象物质的有无。 |
地址 |
日本东京都 |