发明名称 一种频率器件自动测试装置及其测试方法
摘要 本发明公开了一种频率器件自动测试装置,其包括有一计算机、一综合控制单元、一频率计及至少一个高低温箱,所述综合控制单元包括有一核心CPU,所述核心CPU与计算机交互通讯;所述高低温箱上设有一高低温控制单元,所述高低温箱内设有多个选位测试单元,所述选位测试单元包括有多组测试工位,每组测试工位包括有一4514译码器、多个选通开关和多个器件座,4514译码器的多个输出端分别连接于多个选通开关的控制端,多个器件座的输出端分别连接于多个选通开关的输入端,多个选通开关的输出端相互连接后再连接至频率计的输入端,频率计将测试结果以电信号的形式通过核心CPU发送至计算机。本发明实现了自动化测试,且省时省力、生产效率高。
申请公布号 CN103217599A 申请公布日期 2013.07.24
申请号 CN201310082966.X 申请日期 2013.03.15
申请人 深圳市三奇科技有限公司 发明人 方忠有;朱辉;李丕宁;胡志强;温丹;赵小红
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 深圳市精英专利事务所 44242 代理人 李新林
主权项 一种频率器件自动测试装置,其特征在于,所述测试装置包括有一计算机(1)、一综合控制单元(2)、一频率计(3)及至少一个高低温箱(4),其中,所述综合控制单元(2)包括有一核心CPU(20),所述核心CPU(20)与计算机(1)交互通讯;所述高低温箱(4)上设有一高低温控制单元(40),所述高低温控制单元(40)与核心CPU(20)交互通讯,其用于执行核心CPU(20)的控制指令而调节高低温箱(4)的温度,以及采集高低温箱(4)内的温度并将该温度以电信号的形式发送至核心CPU(20);所述高低温箱(4)内设有多个选位测试单元(41),所述选位测试单元(41)包括有多组测试工位,每组测试工位包括有一4514译码器(410)、多个选通开关(411)和多个器件座(412),所述核心CPU(20)将选位指令发送至4514译码器(410)的选位端,4514译码器(410)的多个输出端分别连接于多个选通开关(411)的控制端,多个器件座(412)的输出端分别连接于多个选通开关(411)的输入端,多个选通开关(411)的输出端相互连接后再连接至频率计(3)的输入端,频率计(3)将测试结果以电信号的形式发送至核心CPU(20),所述核心CPU(20)将测试结果返回至计算机(1)。
地址 518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道年丰第三工业区第一栋