量子效率测量装置以及量子效率测量方法

摘要

将作为量子效率的测量对象部的试样(OBJ1)以及具有已知的反射率特性的标准体(REF1)分别安装到设置于平面镜(5)的试样窗(2)上。根据在分别安装了试样(OBJ1)以及标准体(REF1)的情况下由光谱仪测量到的各个光谱来测量试样(OBJ1)的量子效率。通过使观测窗(3)的开口面与试样(OBJ1)或者标准体(REF1)的露出面实质上一致，抑制接受激发光(L1)而由试样(OBJ1)产生的荧光以及由试样(OBJ1)反射的激发光(L1)直接入射到观测窗(3)。

主权项

一种量子效率测量装置，具备：半球部，在其内表面具有光漫反射层；平面镜，其配置成通过上述半球部的实质上的曲率中心，并且堵住上述半球部的开口部，其中，上述平面镜包括第一窗和第二窗，该第一窗设置在上述半球部的实质上的曲率中心的附近，该第二窗设置在从上述第一窗离开规定距离的位置上；光源，其通过上述第一窗向配置成在上述半球部内至少露出一部分的测量对象物照射激发光；光谱仪，其通过上述第二窗对上述半球部内的光谱进行测量，其中，上述第二窗抑制来自上述测量对象物的光直接入射到上述光谱仪；以及运算处理部，其根据第一光谱和第二光谱来算出上述测量对象物的量子效率，其中，上述第一光谱是在将上述测量对象物配置在上述半球部内的情况下由上述光谱仪测量得到的光谱，上述第二光谱是在代替上述测量对象物而将具有已知的反射率特性或者透过率特性的标准体配置在上述半球部内的情况下由上述光谱仪测量得到的光谱；其中，上述第二窗是如下的开口：与上述半球部的内部侧的直径相比在上述半球部的外部侧的直径较大。