扁头探针测试连接器

摘要

本发明系一种提供非永久性电性连接之装置，用于电子元件的测试，其主要包含探针，探针保持器。由于探针头装置于保持器时具方向性之特性，使得相邻的探针之接触点间隙可以缩小，也因此扩大了测试元件的可接触范围，使得测试对接触位置的敏感度降低。