| 摘要 |
<p>L'invention concerne un procédé de test d'un circuit intégré dans lequel sont pris en compte au moins des dérivées premières et secondes des paramètres S du circuit intégré. L'invention concerne également un système de test d'un circuit intégré comprenant un dispositif de fourniture des paramètres S du circuit intégré et un dispositif de simulation du comportement du circuit intégré à partir du modèle équivalent non linéaire du circuit intégré.</p> |
