主权项 |
一种片上系统中高速超宽总线的故障测试系统,电路由一个测试访问通道组(1)、六条测试链路(2.1、2.2、2.3、2.4、2.5、2.6)和一组高速超宽总线测试控制线(3)组成,其特征在于:所述测试访问通道组(1)有一组外接测试访问通道信号输入引脚(TCI)和一组外接测试访问通道信号输出引脚(TCO),而在片内输出分别连接各种类型高速超宽总线的所述六条测试链路(2.1、2.2、2.3、2.4、2.5、2.6);每一所述测试链路(2)根据类型不同分别与高速超宽总线CPU端或高速超宽总线终端相连接,并在片内连接所述高速超宽总线测试控制线(3);所述高速超宽总线测试控制线(3)有一个外接高速超宽总线测试使能信号输入引脚(TEN)、一个外接高速超宽总线测试时钟信号输入引脚(TCLK)和一个外接双向型测试单元功能端口方向切换控制信号输入引脚(BIOC),而在片内输出连接各个所述测试链路(2.1、2.2、2.3、2.4、2.5、2.6);所述测试访问通道组(1)共由三根测试访问输入总线和三根测试访问输出总线组成,其中,每一根测试访问输入总线外接一个测试访问通道信号输入引脚(TCI),每一根测试访问输出总线外接一个测试访问通道信号输出引脚(TCO);所述六条测试链路(2.1、2.2、2.3、2.4、2.5、2.6)分别为:由高速超宽总线CPU端输入型测试单元构成的第一测试链路(2.1)、由高速超宽总线终端输出型测试单元构成的第二测试链路(2.2)、由高速超宽总线CPU端输出型测试单元构成的第三测试链路(2.3)、由高速超宽总线终端输入型测试单元构成的第四测试链路(2.4)、由高速超宽总线CPU端双向型测试单元构成的第五测试链路(2.5)和由高速超宽总线终端双向型测试单元构成的第六测试链路(2.6);在片内,测试访问输入总线与第一测试链路(2.1)、第四测试链路(2.4)、第五测试链路(2.5)和第六测试链路(2.6)相连接;测试访问输出总线与第二测试链路(2.2)、第三测试链路(2.3)、第五测试链路(2.5)和第六测试链路(2.6)相连接。 |