发明名称 | 针对当机程序的离线分析方法及装置 | ||
摘要 | 本发明提供了一种针对当机程序的离线分析方法及装置,属于当机程序的分析。该方法包括:使调试器的模拟器进入运行状态,并在运行状态中设置断点;从当机时平台输出的转储信息中分离出其寄存器和内存信息;通过调试器在断点处用分离出的寄存器和内存信息替换模拟器在运行状态时的寄存器和内存信息;用当机时的调试信息替换模拟器在原有运行状态时的调试信息;调试器根据替换后的调试信息、替换后的寄存器和内存信息进行当机原因分析。本发明通过从当机时平台输出的转储信息中分离出其寄存器和内存信息,而不包含操作系统信息。离线分析当机原因时不需要修改平台和GDB调试器。因此,降低了离线分析的难度和成本,缩短了离线分析的时间。 | ||
申请公布号 | CN102063367B | 申请公布日期 | 2013.07.17 |
申请号 | CN201010536351.6 | 申请日期 | 2010.10.29 |
申请人 | 凌阳科技股份有限公司;恒通高科股份有限公司 | 发明人 | 王泰运;安立君 |
分类号 | G06F11/36(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/36(2006.01)I |
代理机构 | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人 | 谢安昆;宋志强 |
主权项 | 一种针对当机程序的离线分析方法,其特征在于,包括如下步骤:使调试器的模拟器进入运行状态,并在运行状态中设置断点;从当机时平台输出的转储信息中分离出其寄存器信息和内存信息;通过所述调试器在断点处用所述分离出的寄存器信息和内存信息替换模拟器在所述运行状态时的寄存器信息和内存信息;用当机时的调试信息替换所述模拟器在原有所述运行状态时的调试信息;所述调试器根据替换后的调试信息、替换后的寄存器信息和内存信息进行当机原因分析。 | ||
地址 | 中国台湾新竹科学工业园区创新一路19-1号 |