| 摘要 |
<p>In einer Probe (2) werden wiederholt Fluoreszenzemitter zur Abgabe von Fluoreszenzstrahlung angeregt und von der Probe (2) mit einem Mikroskop (1) Einzelbilder (10) erzeugt, wobei zumindest eine Teilmenge der Fluoreszenzemitter in jedem Einzelbild (10) isoliert ist. In den Einzelbildern (10) werden die Lagen der Fluoreszenzemitter mit einer über eine optische Auflösung hinaus gehenden Ortsgenauigkeit lokalisiert. Daraus wird ein hochaufgelöstes Gesamtbild erzeugt. Im Abbildungsstrahlengang des Mikroskops ist ein adaptiver Spiegel (7), der so eingestellt wird, daß er bei der Erzeugung zumindest einiger der Einzelbilder (10) einen Astigmatismus bewirkt. Dadurch werden astigmatismusbehaftete Einzelbilder (15) aufgenommen, in denen über der Fokalebene liegende Fluoreszenzemitter durch in eine erste Richtung unter der Fokalebene liegende Fluoreszenzemitter in eine zweite Richtung verzerrt werden. Aus der Rotationsasymmetrie wird eine Tiefenlagenangabe für die Fluoreszenzemitter abgeleitet. Der adaptive Spiegel (7) wird zusätzlich so eingestellt, daß er bei der Erzeugung einiger Einzelbilder (10) keinen Astigmatismus bewirkt. In den astigmatismusfreien Einzelbildern (16) werden rotationsasymmetrische Bilder (11) von Fluoreszenzemittern detektiert. Bei der Ableitung der Tiefenlagenangabe in den astigmatismusbehafteten Einzelbildern (15) werden diese Fluoreszenzemitter einer Tiefenlagenkorrektur unterzogen oder unterdrückt.</p> |
