发明名称 |
光刻机能量传感器的性能测量装置和测量方法 |
摘要 |
一种光刻机能量传感器的性能测量装置和测量方法,装置由光源、起偏器、分束镜、测量光衰减片、转动控制器、待测能量传感器、参考光衰减片、参考能量传感器、多功能信号处理卡和计算机组成,该测量装置可分别对光刻机能量传感器的重复性、能量线性度和频率线性度进行高精度测量;本发明具有测量方法简单、易实现,成本低的特点。 |
申请公布号 |
CN103197511A |
申请公布日期 |
2013.07.10 |
申请号 |
CN201310126184.1 |
申请日期 |
2013.04.12 |
申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
发明人 |
谢承科;陈明;杨宝喜;黄惠杰 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01)I;G01J1/42(2006.01)I |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
张泽纯 |
主权项 |
一种光刻机能量传感器的性能测量装置,特征在于其构成包括光源(1)、起偏器(2)、分束镜(3)、测量光衰减片(4)、转动控制器(8)、待测能量传感器(5)、参考光衰减片(6)、参考能量传感器(7)、多功能信号处理卡(9)和计算机(10),上述元部件的位置关系如下:在所述的光源(1)输出光束方向依次是所述的起偏器(2)、分束镜(3)、测量光衰减片(4)、待测能量传感器(5),所述的分束镜(3)与所述的光束成45°夹角,在所述的分束镜(3)的反射光方向依次是所述的参考光衰减片(6)和参考能量传感器(7),所述的测量光衰减片(4)固定在所述的转动控制器(8)转动轴上,所述的多功能信号处理卡(9)的输入端分别与所述的待测能量传感器(5)的输出端和参考能量传感器(7)的输出端相连,所述的多功能信号处理卡(9)的第一输出端与所述的转动控制器(8)控制端相连,所述的多功能信号处理卡(9)的第二输出端与所述的计算机(10)的输入端相连。 |
地址 |
201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱 |