发明名称 一种挑选晶粒边角料的工作台
摘要 本实用新型公开了一种挑选晶粒边角料的工作台,包括台体和设置在台体上的台面,所述的台面上设有镂空结构,所述的镂空结构上设有允许晶粒边角料通过的孔,台面的中部设有凹槽,所述的凹槽的槽底设有反光装置,凹槽上设置有与槽口大小相适配的透光装置,所述的透光装置与台面在同一水平面上,所述的台体上设有对应于镂空结构的接料装置。通过在台面上设置凹槽,并在凹槽底部设置反光镜,在凹槽上方设置透光板,这样操作人员就能够清楚地看出晶粒正反面情况,可以很方便地发现不合格的晶粒以及边角粒,能够有效地提高工作效率,提高晶粒产品的合格率。该工作台还具有防静电功能,并且结构简单,制作方便,成本低。
申请公布号 CN203044370U 申请公布日期 2013.07.10
申请号 CN201220727253.5 申请日期 2012.12.26
申请人 杭州立昂微电子股份有限公司 发明人 卢海参;何良恩;任德孝
分类号 B07C7/04(2006.01)I;B25H1/12(2006.01)I 主分类号 B07C7/04(2006.01)I
代理机构 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人 尉伟敏;郑汝珍
主权项 一种挑选晶粒边角料的工作台,包括台体(1)和设置在台体(1)上的台面(2),其特征在于:所述的台面(2)上设有镂空结构(3),所述的镂空结构(3)上设有允许晶粒边角料通过的孔,台面(2)的中部设有凹槽(4),所述的凹槽(4)的槽底设有反光装置(5),凹槽(4)上设置有与槽口大小相适配的透光装置(6),所述的透光装置(6)与台面(2)在同一水平面上,所述的台体(1)上设有对应于镂空结构(3)的接料装置(7)。
地址 310000 浙江省杭州市下沙经济技术开发区20号大街199号