发明名称 一种EPON ONU长发光检测电路
摘要 本发明公开了一种EPON ONU长发光检测电路,包括具有预置和清除端的双上升沿D触发器和CPU芯片,CPU芯片的GPI03脚连接双上升沿D触发器的CLK脚,双上升沿D触发器的TX_SD脚连接CPU芯片的GPI01脚,CPU芯片的GPI02脚通过一控制电路连接光模块的TX_VCC脚,双上升沿D触发器连接所述光模块的PON_TX_SD脚;光模块的RX_VCC脚和所述控制电路分别接3.3V电压。本发明省去了模拟电路的多种分立器件使电路变得简洁高效,同时可以通过软件进行ONU光模块长发光时间的控制,且不受流量的限制,与温度等的变化无关,可以满足不同用户对长发光保护时间的要求,更具人性化。
申请公布号 CN103199921A 申请公布日期 2013.07.10
申请号 CN201310100667.4 申请日期 2013.03.26
申请人 上海斐讯数据通信技术有限公司 发明人 鲁灿;王玉娟
分类号 H04B10/073(2013.01)I 主分类号 H04B10/073(2013.01)I
代理机构 上海申新律师事务所 31272 代理人 竺路玲
主权项 一种EPON ONU长发光检测电路,用于检测光模块,其特征在于,包括具有预置和清除端的双上升沿D触发器和CPU芯片,所述CPU芯片的GPI03脚连接所述双上升沿D触发器的CLK脚,所述双上升沿D触发器的TX_SD脚连接所述CPU芯片的GPI01脚,所述CPU芯片的GPI02脚通过一控制电路连接所述光模块的TX_VCC脚,所述双上升沿D触发器连接所述光模块的PON_TX_SD脚;所述光模块的RX_VCC脚和所述控制电路分别接3.3V电压;所述CPU芯片通过所述双上升沿D触发器的输出TX_SD信号判断是否发生长发光现象,如果TX_SD为高电平,则判断为发生长发光现象,并通过所述控制电路关断所述光模块的TX_VCC电源。
地址 201616 上海市松江区广富林路4855弄20号、90号