发明名称 |
一种触摸检测方法及装置 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种触摸检测方法及装置,该方法包括:对触摸屏中的若干检测行进行行组划分;从每一个行组中确定选定检测行;对每一个行组中每一检测行内的各像素点进行触摸检测,其中,针对同一行组中位于同一像素列的像素点的触摸检测是同步进行的;在任意一个行组中有存在触摸反馈的像素列时,依次对所述像素列中的选定检测行内的像素点进行触摸检测,确定触摸像素点,用以解决现有技术中存在的触摸检测次数过多导致的设备出现响应过慢、停顿或无响应的问题。 |
申请公布号 |
CN103197794A |
申请公布日期 |
2013.07.10 |
申请号 |
CN201310069018.2 |
申请日期 |
2013.03.05 |
申请人 |
北京京东方光电科技有限公司 |
发明人 |
徐帅;于尧;张郑欣 |
分类号 |
G06F3/041(2006.01)I;G06F3/044(2006.01)I |
主分类号 |
G06F3/041(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
一种触摸检测方法,其特征在于,包括:对触摸屏中的若干检测行进行行组划分;从每一个行组中确定选定检测行;对每一个行组中每一检测行内的各像素点进行触摸检测,其中,针对同一行组中位于同一像素列的像素点的触摸检测是同步进行的;在任意一个行组中有存在触摸反馈的像素列时,依次对所述像素列中的选定检测行内的像素点进行触摸检测,确定触摸像素点。 |
地址 |
100176 北京市大兴区经济技术开发区西环中路8号 |