| 发明名称 | 一种ICP-MS分析系统 | ||
| 摘要 | 本实用新型公布了一种ICP-MS分析系统，所述分析系统包括ICP源、检测器；所述分析系统进一步包括：线性离子阱，所述线性离子阱设置在所述ICP源和检测器之间。本实用新型具有更高的碰撞碎裂效率、更多的离子-分子反应通道、以及提供高灵敏度的测量模式等优点。 | ||
| 申请公布号 | CN203053917U | 申请公布日期 | 2013.07.10 |
| 申请号 | CN201220756835.6 | 申请日期 | 2012.12.29 |
| 申请人 | 聚光科技(杭州)股份有限公司 | 发明人 | 梁炎;刘立鹏;郑毅 |
| 分类号 | G01N27/62(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/62(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种ICP‑MS分析系统，所述分析系统包括ICP源、检测器；其特征在于：所述分析系统进一步包括：线性离子阱，所述线性离子阱设置在所述ICP源和检测器之间。 | ||
| 地址 | 310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号 | ||