发明名称 一种基于比吸光度的纳米流体的制备方法
摘要 本发明公开了一种基于比吸光度的纳米流体的制备方法,步骤10)测定初始纳米流体的吸光度:首先将纳米颗粒与基液混合,搅拌均匀,制备出质量分数为K·M的初始纳米流体,然后测量初始纳米流体的吸光度;步骤20)分离静置后沉降的纳米颗粒:将初始纳米流体静置设定时间后,然后将上层未沉降的纳米流体分离出来;步骤30)测定分离的纳米流体吸光度:利用紫外可见分光光度计,测量上层未沉降的纳米流体的吸光度和比吸光度;步骤40)制备质量分数为M的纳米流体:向上层未沉降的纳米流体中,添加基液,制备出质量分数为M的纳米流体。该制备方法可以保证获得所需的纳米颗粒质量分数,并且提高纳米流体的分散性。
申请公布号 CN103191589A 申请公布日期 2013.07.10
申请号 CN201310053959.7 申请日期 2013.02.20
申请人 东南大学 发明人 杨柳;杜垲
分类号 B01D21/00(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I;G01N21/33(2006.01)I;B82Y35/00(2011.01)I 主分类号 B01D21/00(2006.01)I
代理机构 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人 杨晓玲
主权项 一种基于比吸光度的纳米流体的制备方法,其特征在于,该制备方法包括以下步骤:步骤10)测定初始纳米流体的吸光度:首先将纳米颗粒与基液混合,搅拌均匀,制备出质量分数为K·M的初始纳米流体,其中,K>1,M为最终获取的纳米流体的质量分数,然后利用紫外可见分光光度计,测量初始纳米流体的吸光度Aini;步骤20)分离静置后沉降的纳米颗粒:将步骤10)制备的初始纳米流体静置设定时间后,该初始纳米流体分为上层未沉降的纳米流体和下层沉降的纳米颗粒,然后利用提取设备将上层未沉降的纳米流体分离出来;步骤30)测定分离的纳米流体吸光度:利用紫外可见分光光度计,测量步骤20)分离出来的上层未沉降的纳米流体的吸光度Aaf,随后利用式(1)获得该上层未沉降的纳米流体的比吸光度I:I=Aaf/Aini    式(1);步骤40)制备质量分数为M的纳米流体:向步骤20)分离出来的上层未沉降的纳米流体中,添加基液,对该纳米流体进行稀释,稀释比例为:分离出来的上层未沉降的纳米流体质量∶添加的基液质量=1∶(K·I‑1),制备出质量分数为M的纳米流体。
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