发明名称 | 非易失性半导体存储器装置及其写入方法 | ||
摘要 | 一种非易失性半导体存储器装置及其写入方法。该非易失性半导体存储器装置包括:一非易失性的存储器单元阵列;以及一控制电路,用以控制该存储器单元阵列的写入。在擦除已写入存储器单元的数据的擦除处理之前或之后,上述控制电路检测写入至上述存储器单元阵列时的写入速度,决定每区块或每字线的对应该写入速度的写入开始电压,存储上述所决定的写入开始电压于上述存储器单元阵列,以及从上述存储器单元阵列读出写入开始电压以写入预定数据。 | ||
申请公布号 | CN103198862A | 申请公布日期 | 2013.07.10 |
申请号 | CN201210272156.6 | 申请日期 | 2012.08.01 |
申请人 | 力晶科技股份有限公司 | 发明人 | 妹尾真言;荒川秀贵;白田理一郎 |
分类号 | G11C16/06(2006.01)I | 主分类号 | G11C16/06(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 史新宏 |
主权项 | 一种非易失性半导体存储器装置,包括:一非易失性的存储器单元阵列;以及一控制电路,用以控制该存储器单元阵列的写入;其中在擦除已写入存储器单元的数据的擦除处理之前或之后,上述控制电路检测写入至上述存储器单元阵列时的写入速度,决定每区块或每字线的对应该写入速度的写入开始电压,存储上述所决定的写入开始电压于上述存储器单元阵列,以及从上述存储器单元阵列读出写入开始电压以写入预定数据。 | ||
地址 | 中国台湾新竹科学工业园区 |