发明名称 非易失性半导体存储器装置及其写入方法
摘要 一种非易失性半导体存储器装置及其写入方法。该非易失性半导体存储器装置包括:一非易失性的存储器单元阵列;以及一控制电路,用以控制该存储器单元阵列的写入。在擦除已写入存储器单元的数据的擦除处理之前或之后,上述控制电路检测写入至上述存储器单元阵列时的写入速度,决定每区块或每字线的对应该写入速度的写入开始电压,存储上述所决定的写入开始电压于上述存储器单元阵列,以及从上述存储器单元阵列读出写入开始电压以写入预定数据。
申请公布号 CN103198862A 申请公布日期 2013.07.10
申请号 CN201210272156.6 申请日期 2012.08.01
申请人 力晶科技股份有限公司 发明人 妹尾真言;荒川秀贵;白田理一郎
分类号 G11C16/06(2006.01)I 主分类号 G11C16/06(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 史新宏
主权项 一种非易失性半导体存储器装置,包括:一非易失性的存储器单元阵列;以及一控制电路,用以控制该存储器单元阵列的写入;其中在擦除已写入存储器单元的数据的擦除处理之前或之后,上述控制电路检测写入至上述存储器单元阵列时的写入速度,决定每区块或每字线的对应该写入速度的写入开始电压,存储上述所决定的写入开始电压于上述存储器单元阵列,以及从上述存储器单元阵列读出写入开始电压以写入预定数据。
地址 中国台湾新竹科学工业园区