线性系统系数估计方法、线性设备列数值估计方法、电容检测方法、集成电路、触摸传感器系统以及电子设备

摘要

本文所揭示的电容检测方法实现了良好的检测精确度、良好的分辨率和高速操作，该方法(A)(a)基于代码序列(di(=di1,...,diN，其中i=1,...,M)，这些代码序列彼此正交)，针对(I)第一电容列(Ci1)和(II)第二电容列(Ci2)中的每一个，驱动并行的驱动线路(DL1,...,DLM)，该第一电容列位于这些驱动线路与第一传感线路(SL1)之间，该第二电容列位于这些驱动线路与第二传感线路(SL2)之间，并且(b)从上述列(Ci1)中输出sFirst=(s11,...,s1N)并且从上述列(Ci2)中输出sSecond=(s21,...,s2N)，以及(B)基于上述输出(sFirst)与代码序列(di)的内积操作来估计上述列(Ci1)中的第一电容数值，并且(b)基于上述输出(sSecond)与代码序列(di)的内积操作来估计上述列(Ci2)中的第二电容数值。

主权项

一种线性系统系数估计方法，包括如下步骤：(A)(a)基于M个代码序列di(=di1,di2,...,diN,其中i=1,...,M)，向一系统输入M个输入Xk(k=1,...,M)，这些代码序列彼此正交且每一个都具有长度N，该系统具有线性输入和输出并且有M个输入Xk(k=1,...,M)要被输入到该系统，该系统被下式表示： F ( X 1 , · · · , XM ) = Σ i = 1 M ( Ci × Xi ) , 以及(b)输出N个输出s=(s1,s2,...,sN)=(F(d11,d21,...,dM1),F(d12,d22,...,dM2),...,F(d1N,d2N,...,dMN))；以及(B)基于所述输出s和代码序列di的内积操作，估计与第k个输入xk相对应的系数Ck。