发明名称 微压应力测试座
摘要 本发明是有关于一种微压应力测试座,包括有基座、测试端口、导引座、长压钳、短压钳、以及二按压件。长压钳及短压钳设置于基座的相对二侧,二按压件分别覆盖于长压钳及短压钳上。长压钳上有一凸面且短压钳上有一止合面,二者皆可选择式顶抵于导引座上。当下压二侧按压件时,即可放置一待测芯片,随后松开按压件,长压钳及短压钳会先回压至导引座上,方型压头再压合至待测芯片上,由此导引座可吸收大部份的冲击力,避免待测芯片损毁。
申请公布号 CN103197104A 申请公布日期 2013.07.10
申请号 CN201210004332.8 申请日期 2012.01.09
申请人 京元电子股份有限公司 发明人 刘光祥;林威成
分类号 G01R1/04(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 汤保平
主权项 一种微压应力测试座,包括:一基座,开设有一容置槽;一测试端口,设置于该基座的该容置槽内;一导引座,开设有一测试槽,置于该基座的该容置槽内,并位于该测试端口上方,该导引座与该测试端口间夹设有多个第一弹性元件;一长压钳,设置于该基座的一侧,凸设有一凸面,可选择式顶抵于该导引座;一短压钳,设置于该基座上的该长压钳的相对侧,凸设有一止合面,可选择式顶抵于该导引座;以及二按压件,分别穿过该基座上的至少一贯穿柱,枢设于该基座上,并分别覆盖于该长压钳及该短压钳的一端,该二按压件与该基座间夹设有多个第二弹性元件。
地址 中国台湾新竹市