发明名称 |
像素缺陷校正器件、成像设备、像素缺陷校正方法和程序 |
摘要 |
提供了像素缺陷校正器件、成像设备、像素缺陷校正方法和程序。该像素缺陷校正器件包括:缺陷确定部件,确定图像的感兴趣像素是否为图像的缺陷,在所述图像中以二维方式排列每一个均具有像素值的多个像素;梯度检测部件,至少基于处理区域中包括的感兴趣像素周围的外围像素的值,在处理区域中检测梯度或边缘,所述处理区域包括多个像素,其中感兴趣像素位于中间;校正值获取部件,根据检测到的梯度或边缘,选择用于感兴趣像素的校正值的获取的像素,并根据所选的像素的值来获取校正值;以及缺陷像素替换部件,当确定感兴趣像素为缺陷时,以校正值替换感兴趣像素的值。 |
申请公布号 |
CN102055917B |
申请公布日期 |
2013.07.10 |
申请号 |
CN201010521985.4 |
申请日期 |
2010.10.26 |
申请人 |
索尼公司 |
发明人 |
桥爪淳 |
分类号 |
H04N5/367(2011.01)I;H04N9/04(2006.01)I |
主分类号 |
H04N5/367(2011.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
郭定辉 |
主权项 |
一种像素缺陷校正器件,包括:缺陷确定部件,确定图像的感兴趣像素是否为图像的缺陷,在所述图像中以二维方式排列每一个均具有像素值的多个像素;梯度检测部件,至少基于处理区域中包括的所述感兴趣像素周围的外围像素的值,在所述处理区域中检测梯度或边缘,所述处理区域包括多个像素,其中感兴趣像素位于中间;校正值获取部件,根据检测到的梯度或边缘,选择用于所述感兴趣像素的校正值的获取的像素,并根据所选的像素的值来获取所述校正值;和缺陷像素替换部件,当确定所述感兴趣像素为图像的缺陷时,以所述校正值替换所述感兴趣像素的值,其中所述图像的多个像素中的每一个对应于从预定数量的颜色中选择的颜色,以及所述梯度检测部件基于具有与所述感兴趣像素不同颜色的外围像素的值,检测所述处理区域的梯度或边缘。 |
地址 |
日本东京都 |