| 摘要 |
Przedmiotem wynalazku jest sposób wyznaczania podstawowych parametrów zlacza p - n, wykorzystujacy pomiary elektryczne, a stosowany do charakteryzacji przyrzadów pólprzewodnikowych ze zlaczem p - n. W sposobie tym, najpierw dla co najmniej dwudziestu punktów mierzy sie wartosci napiecia i natezenia pradu i wykresla sie charakterystyke pradowo-napieciowa przyrzadu ze zlaczem p - n. Nastepnie, zadajac poczatkowe wartosci parametrów n, Is, Rs i Gp i korzystajac z zaleznosci: (A) gdzie: I jest pradem przeplywajacym przez diode przy polaryzacji napieciem U, n jest wspólczynnikiem niedoskonalosci, Is, jest pradem nasycenia, Rs jest rezystancja szeregowa, Gp jest konduktancja wynikajaca z pradu uplywu plynacym przez rezystancje równolegla Rp = 1/Gp, oblicza sie parametry n, Is, Rs i Gp dla wszystkich punktów charakterystyki. Otrzymane wartosci parametrów n, Is, Rs i Gp podstawia sie do tej samej zaleznosci i wykresla sie teoretyczna charakterystyke pradowo napieciowa, która nastepnie porównuje sie z charakterystyka zmierzona okreslajac stopien ich dopasowania. |
