发明名称 Verfahren und Mikroskop zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben
摘要 Verfahren zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben, wobei die zu untersuchende Probe (1) durch ein Objektiv (3, 13) beleuchtet wird und wobei die Probe (1) eine Substanz umfasst, die wiederholt von einem ersten Zustand (Z1, A) in einen zweiten Zustand (Z2, B) überführbar ist, wobei sich die ersten und die zweiten Zustände (Z1, A; Z2, B) in mindestens einer optischen Eigenschaft voneinander unterscheiden, umfassend die Schritte, dass die Substanz in einem zu erfassenden Probenbereich (P) zunächst in den ersten Zustand (Z1, A) gebracht wird und dass mittels eines optischen Signals (4) der zweite Zustand (Z2, B) induziert wird, wobei innerhalb des zu erfassenden Probenbereichs (P) räumlich begrenzte Teilbereiche gezielt ausgespart werden, und wobei das optische Signal (4) in Form einer Fokuslinie (10) mit einem Querschnittsprofil mit mindestens einer Intensitätsnullstelle (5) mit seitlich benachbarten Intensitätsmaxima (9) bereitgestellt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Fokuslinie (10) mittels einer linienförmigen Ausleuchtung in einer zur Pupille (P1) des Objektivs (3, 13) konjugierten Pupillenebene (P3)–Pupillenlinie (14)–und durch Phasenmodulation entlang der Pupillenlinie (14) erzeugt wird, wobei die Phasenmodulation derart vorgenommen wird, dass entlang der Pupillenlinie (14) ein oder mehrere Phasensprünge eingeführt werden.
申请公布号 DE102006009831(B4) 申请公布日期 2013.07.04
申请号 DE20061009831 申请日期 2006.03.01
申请人 LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH 发明人 DYBA, MARCUS, DR.;GUGEL, HILMAR, DR.
分类号 G01N21/64;G02B21/00 主分类号 G01N21/64
代理机构 代理人
主权项
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