具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法

摘要

本发明提供一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法，该电子装置包括有存储单元及处理单元，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该处理单元包括有：读取模块，读取插入电子装置接口的硬盘的容量；选项获取模块，根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量默认的逻辑地址选项；容量读取模块，根据选择模块确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及测试模块，测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。采用本发明的电子装置及方法，帮助用户缩短测试时间。

主权项

一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置，其特征在于：该电子装置包括有一接口、一存储单元、一输入单元及一处理单元，该接口用于供硬盘插入至电子装置，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该处理单元包括有：一读取模块，用于读取插入电子装置接口的硬盘的容量；一选项获取模块，用于根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量默认的逻辑地址选项；一容量读取模块，用于根据选择模块确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及一测试模块，用于测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。