一种用于DRAM修复测试的数据压缩输出方法

摘要

本发明涉及一种用于DRAM修复测试的数据压缩输出方法，包括以下步骤：1）读取32位cell单元的数值；2）通过芯片内部的算法判断cell单元是否存在fail；3）芯片内部对32位cell单元的结果值进行“与”的运算；4）输出32位cell单元的唯一最终结果值；5)测试机台得到32位cell单元的结果后，如果结果为“0”，则说明存在坏掉的位线CSL，运行处理程序使冗余的CSL代替坏掉的位线CSL；如果结果为“1”，则说明没有坏掉的位线CSL。本发明提供了一种降低测试时间、降低测试成本的DRAM修复测试的数据压缩输出方法。

主权项

一种用于DRAM修复所需的数据压缩输出方法，该发明步骤如下：1）读取32位cell单元的数值；2）通过芯片内部的算法判断cell单元是否存在fail，如果cell单元没有fail，则结果值为“1”，如果芯片单元有fail，则结果值为“0”；3）芯片内部对32位cell单元的结果值进行“与”的运算：最终结果=(单元1结果)“与”(单元2结果)“与”(单元3结果)“与”…“与”(单元31结果)“与”(单元32结果)；4）输出32位cell单元的唯一最终结果值；5)测试机台得到32位cell单元的结果后，如果结果为“0”，则说明存在坏掉的位线CSL，运行处理程序使冗余的CSL代替坏掉的位线CSL；如果结果为“1”，则说明没有坏掉的位线CSL。