发明名称 |
产品尺寸检测治具 |
摘要 |
本实用新型公开了一种产品尺寸检测治具,包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面,该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔,对应该每一检测用通孔内活动插设一PIN针,所述每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。该产品尺寸检测治具,能够一次检测多处产品尺寸,效率大大提升。 |
申请公布号 |
CN203037235U |
申请公布日期 |
2013.07.03 |
申请号 |
CN201320003728.0 |
申请日期 |
2013.01.05 |
申请人 |
昆山上达精密配件有限公司 |
发明人 |
韦盛城 |
分类号 |
G01B21/00(2006.01)I;G01B21/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01B21/00(2006.01)I |
代理机构 |
昆山四方专利事务所 32212 |
代理人 |
盛建德 |
主权项 |
一种产品尺寸检测治具,其特征在于:包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面(1),该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔(2),对应该每一检测用通孔内活动插设一PIN针(3),所述每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。 |
地址 |
215326 江苏省苏州市昆山市张浦镇南港沪光路200号 |