发明名称 |
一种人工电磁材料试验点的选取方法及装置 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种人工电磁材料试验点的选取方法及装置,所述方法包括:通过正交实验设计确定出人工电磁材料初始试验点;基于初始试验点初步确定人工电磁材料的折射率分布图,该图的X轴和Y轴为初始试验点确定出的水平轴,Z轴为折射率所在轴;当Y轴选取不同数值时,分别通过对确定出的折射率分布图中与Y轴所取数值对应的X轴及Z轴的初始试验点进行三次样条插值,得到折射率分布曲线;选出每条折射率分布曲线中的最大折射率和最小折射率,在最大折射率和最小折射率之间确定折射率采样点,并基于折射率采样点和对应的折射率分布曲线映射出X轴上的目标试验点。采用本发明,所选取的试验点能很好还原人工电磁材料的电磁响应的空间特性。 |
申请公布号 |
CN103185840A |
申请公布日期 |
2013.07.03 |
申请号 |
CN201110443373.2 |
申请日期 |
2011.12.27 |
申请人 |
深圳光启高等理工研究院 |
发明人 |
刘若鹏;李春来;刘斌;陈智伟 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州三环专利代理有限公司 44202 |
代理人 |
郝传鑫;熊永强 |
主权项 |
一种人工电磁材料试验点的选取方法,其特征在于,包括:通过正交实验设计确定出人工电磁材料初始试验点;基于所述确定出的初始试验点初步确定人工电磁材料的折射率分布图,该分布图的X轴和Y轴为所述初始试验点确定出的水平轴,Z轴为折射率所在轴;当Y轴选取不同数值时,分别通过对所述确定出的折射率分布图中与Y轴所取数值对应的X轴及Z轴的初始试验点进行三次样条插值,得到折射率分布曲线;选出每条所述折射率分布曲线中的最大折射率和最小折射率,在最大折射率和最小折射率之间确定折射率采样点,并基于所述折射率采样点和对应的折射率分布曲线映射出X轴上的目标试验点。 |
地址 |
518057 广东省深圳市南山区高新区中区高新中一道9号软件大厦 |