发明名称 sistema de exames por tomografia computadorizada - tc
摘要 Patente de Invenção: SISTEMA DE EXAMES POR TOMOGRAFIA COMPUTADORIZADA - TC. O presente pedido propõe um sistema de exame de TC, compreendo um aparelho de exame de TC, e pelo menos dois leitos móveis para o exame dos pacientes. Ao utilizar pelo menos dois móveis para o exame dos pacientes, o trabalho de preparação do paciente antes do escaneamento para a tomografia computadorizada e o trabalho de posicionamento e calibragem do leito de exame e da estrutura do escaneador pode ser realizado simultaneamente, deste modo melhorado a eficiência global do sistema de exame de TC num grau muito grande.
申请公布号 BR102012016279(A2) 申请公布日期 2013.07.02
申请号 BR20121016279 申请日期 2012.06.29
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 MA HAO CHEN;YI TIAN;WEI WANG
分类号 A61B6/04;A61B6/03 主分类号 A61B6/04
代理机构 代理人
主权项
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