| 摘要 |
De onderhavige uitvinding heeft betrekking op een systeem voor het testen van een ingangssignaal (100). Het systeem omvat - een testsignaalopwekkingsblok (103) dat een testsignaal (25) produceert op basis van testparameters bekomen uit ingangssignaal-analyse, - een ingangscircuit (101) omvattende middelen voor het superponeren van genoemd testsignaal (25) op genoemd ingangsignaal (100), - een testinterface (102) in verbinding met genoemd ingangscircuit en aangepast voor het analyseren van karakteristieken van het ingangssignaal en testsignaal, - een testcontrole-eenheid (105) in verbinding met genoemde testinterface (102) en genoemd testsignaalopwekkingsblok (103) en ingericht voor het definiëren van geüpdatete testparameters. |
