| 摘要 |
本发明提供一种元件处理机，其包含一经过改良的测试座(100)，该测试座的形状可确保被安置于该测试座中的一电子元件(10)会位于一正确的方向中以便进行参数测试。该测试座具有一基底表面(102)以及彼此相对的第一座侧表面与第二座侧表面(104、106)，该等第一座侧表面与第二座侧表面的分隔距离大体上会从一较窄的凹口端(110)至一较宽的凹口端(112)越来越大。于该较窄的凹口端处会有一开口(116)。一电子元件会被安置于此测试座之内，致使该电子元件的该等第一侧表面与第二侧表面(12、14)靠于该等第一座侧表面与第二座侧表面之上。位于该较窄的凹口端处的开口会露出一侧表面侧边缘，其上会形成一卷绕电极(34)；而且位于该较宽的凹口端处的开口会露出一第二侧表面侧边缘，其上会形成一第二卷绕电极(30)。 |
