发明名称 |
形成遮蔽闸极场效应电晶体之方法 |
摘要 |
一种场效电晶体系如下来制成。一沟槽会被形成于一半导体区域中。一衬垫该沟槽之侧壁和底部的介电层会被制成。该沟槽会充填一导电材料。该导电材料会被削低于沟槽内而在该沟槽的底部形成一屏蔽电极。该导电材料的削低可包括等向性蚀刻该导电材料。一电极间介电层(ILD)会被制设在该削低的屏蔽电极上。 |
申请公布号 |
TWI400757 |
申请公布日期 |
2013.07.01 |
申请号 |
TW095123299 |
申请日期 |
2006.06.28 |
申请人 |
快捷半导体公司 美国 |
发明人 |
吉瑞伯斯 汤玛斯E;瑞德利 罗尼S;克拉夫特 纳山L;多尼 盖瑞M;耶迪奈克 约瑟芬 A;柯康 克里斯多夫B;查拉 亚修克 |
分类号 |
H01L21/335 |
主分类号 |
H01L21/335 |
代理机构 |
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代理人 |
恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼 |
主权项 |
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地址 |
美国 |