发明名称 基底与使用此等基底的方法
摘要 本发明揭示一种自一用于微影术中之装置移除污染物的方法。该方法包括:将一基底装载至该装置中,该基底包含一刚性支撑层及一提供于该刚性支撑层上之可变形层;致使该基底之该可变形层与该装置之待自其移除去污染物之一表面接触;在该可变形层与该装置之待自其移除去污染物之该表面之间引入相对移动,以自该表面驱逐污染物以供移除;及移除该经驱逐污染物。本发明亦描述及主张本发明之其他态样。
申请公布号 TWI400577 申请公布日期 2013.07.01
申请号 TW097125052 申请日期 2008.07.03
申请人 ASML荷兰公司 荷兰 发明人 安东尼 马提斯 柯尼利 佩勒斯 迪 琼恩;伊果 派楚斯 玛瑞 柏丘姆;理查 乔瑟夫 布鲁斯;汉斯 强森;马汀斯 汉德利克斯 安东尼斯 里恩德斯;彼得 法兰西卡斯 汪坦;马可仕 席尔多 维汉默斯 凡 德 海登;杰奎斯 柯尔 裘汉 凡 德 当克;佛德烈 裘汉 凡 登 宝嘉德;詹 葛隆沃;珊卓 凡 德 葛瑞夫;卡曼 优利亚 佐德希
分类号 G03F7/20;H01L21/027 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 荷兰