决定晶体穿透效应与侦检效率以及侦检效率校正之方法

摘要

本发明提出的晶体级侦检效率校正方式，能够有效地评估出闪烁侦检器之晶体穿透效应所造成影响，因此能正确计算出晶体间之侦检效率差异，给予适当的校正，以增进整体造影结果品质。本发明所提出之执行方法简单，也不需修改硬体装置之设计，不会造成开发成本、人力与时间上的负担。