发明名称 投射式电容触摸面板及其坐标检测方法
摘要 本发明是投射式电容触摸面板及其坐标检测方法。投射式电容触摸面板包括触摸传感器单元和控制器,在该触摸传感器单元中,X电极和Y电极布置为彼此交叉。该控制器具有:X电极和Y电极存储单元,分别存储通过N次扫描X电极和Y电极而检测的X电极和Y电极的电容变化量;X电极和Y电极电容变化量相加单元,分别将X电极和Y电极的电容变化量相加;以及中心坐标计算单元,通过使用相加的电容变化量来计算导体触摸该触摸传感器单元的位置的中心坐标。
申请公布号 CN103176673A 申请公布日期 2013.06.26
申请号 CN201210558927.8 申请日期 2012.12.20
申请人 双叶电子工业株式会社 发明人 井上和
分类号 G06F3/044(2006.01)I 主分类号 G06F3/044(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 陈松涛;韩宏
主权项 一种投射式电容触摸面板,包括触摸传感器单元和控制器,在所述触摸传感器单元中,X电极X1到Xn(n等于或大于2)和Y电极Y1到Ym(m等于或大于2)布置为彼此交叉,其中,所述控制器包括:X电极暂存单元和Y电极暂存单元,分别存储通过N次(N等于或大于2)扫描所述X电极X1到Xn和所述Y电极Y1到Ym而检测的所述X电极X1到Xn的电容变化量和所述Y电极Y1到Ym的电容变化量;X电极电容变化量相加单元和Y电极电容变化量相加单元,分别将所述X电极暂存单元的电容变化量和所述Y电极暂存单元的电容变化量相加;以及中心坐标计算单元,通过使用由所述X电极电容变化量相加单元和所述Y电极电容变化量相加单元相加的电容变化量来计算导体触摸所述触摸传感器单元处的位置的中心坐标,并检测所述位置的坐标。
地址 日本千叶县